德國Mahr馬爾MARSURF PS1小型粗糙度儀

• 更新時間：2020-04-09
• 瀏覽次數：1424

MarSurf PS1 是在加工現場使用的便攜式粗糙度測量儀
它的Z大測量范圍為 350 µm（0.014 in）（-200 µm 至 +150 µm）（-0.008 in 至 +0.006 in）。利用該儀器內置的驅動單元無需重新進行設置即可進行測量。它的Z大掃描長度為 17.5 mm（0.700 in）。該儀器使用方便并且符合DIN EN ISO 3274標準 的規定。

訂購留言

分享到：

德國Mahr馬爾MARSURF PS1小型粗糙度儀

表面粗糙度儀的測量結果可以用Ra,Rz或Tp表示，這些結果包括被測表面峰頂到谷底的距離，峰頂頻率評估。

重量輕，便于攜帶，用于測量表面粗糙度，符合標準。

該儀器適用于不同工業領域中測量表面粗糙度，特別是當樣品過大不宜在實驗室中測量的情況。
多語言顯示：屏幕上顯示所有信息，有14種語言可選
靈活性: 可在任何角度測量，水平、垂直、倒置，隨貨提供適合各種樣品符合標準的高度調節裝置。
整體式校準標準：無需外部校準標準，使用更加方便。
驅動裝置：裝置可旋轉也可縱向移 動，帶動針尖傳感器到校準位置，同時針尖傳感器處于校準位置，在運輸過程 可得到保護。
帶有移動保護功能的針尖傳感器：2μm金剛石針尖，測量力度0.75mN,根據不同需要配置不同針尖。
如何使用表面粗糙度測試儀
 
德國Mahr馬爾MARSURF PS1小型粗糙度儀
含觸針的表面粗糙測試儀，觸針在表面上機械移動，記錄預定義樣品長度內表面粗糙度"圖像"。
測量技術提供了大量的測量參數，包括：
 
Rmax: 取樣長度內，zui高峰頂與zui低谷底之間的zui大距離
Ra: 取樣長度內的平均粗糙度
Rt: 給定取樣長度內，zui高峰頂與zui低谷底之間的距離。
Rz: 多種取樣長度內，zui高峰頂與zui低谷底之間的平均距離

MarSurf PS1 是在加工現場使用的便攜式粗糙度測量儀
它的zui大測量范圍為 350 µm（0.014 in)（-200 µm 至 +150 µm）（-0.008 in 至 +0.006 in）。利用該儀器內置的驅動單元無需重新進行設置即可進行測量。它的zui大掃描長度為 17.5 mm（0.700 in)。該儀器使用方便并且符合DIN EN ISO 3274標準 的規定。
MarSurf PS1以及Mahr探頭在出廠時已經過校準。對于采用探針法和后續檢查的高精度測量，可使用自動動態標定功能。為此，MarSurf PS1 儀器預置了此功能。PHT 探頭有一個*的活動導塊 ，可以有效地清除沉積的灰塵和油漬。
 弓型垂直調節器 1 適用于多種外形的工件的粗糙度測量（例如，用于圓柱形被測件，與探頭保護體組合使用的固定式三點支承、四點支承等），并且可以方便地進行高度調節。
MarSurf PS1由于采用堅固耐用的外殼，MarSurf PS1 可在惡劣的環境下工作。該儀器的操作單元根據人體工程學設計，安排合理、一目了然，特制的液晶顯示屏清晰易讀。
 MarSurf PS1 體積小、重量輕（約 400 g / 0.88 lbs），是理想的便攜式儀器。由于采用了配有背帶和袢帶的便攜式儀器箱設計，使得儀器可以隨身攜帶。其內置的充電電池能提供幾天工作的電能 。